Détermination des contraintes residuelles par diffraction des rayons x

Code Stage : EA20

Tarifs

1800 €

Nombre d'heures

28

Stage de quatre jours - 28 heures
Nombre de participants  limité à 10
Organisé en collaboration avec l’Ecole Nationale Supérieure d’Arts et Métiers ParisTech

Responsable

Chedly BRAHAM, ENSAM ParisTech CER de Paris

Publics et conditions d'accès

Ingénieurs et techniciens supérieurs des laboratoires de contrôle, d'essais et de recherche.
Ce stage est destiné à tous ceux qui n'utilisent pas encore la méthode et souhaitent connaître les techniques de base et la mise en oeuvre pratique. Il ne suppose que peu de connaissances préalables en diffraction X et en mécanique.

Objectifs

  • Approfondir les techniques de base et de mise en oeuvre pratique.

Voir aussi les formations en

Programme

Origine et ordres de contraintes résiduelles
Eléments de mécanique des solides
Eléments de diffraction des rayons X
Théorie de la méthode
Appareillages utilisés
Localisation des pics, calculs d'erreurs (erreurs géométriques)
Limites de la méthode
Mise en oeuvre de la méthode
Etude de cas commentée
Travaux en laboratoire, exercices
Discussion avec les chercheurs
Exemples d'applications industrielles
Approfondir les techniques de base et de mise en oeuvre pratiq
Appareils vus à l’Ensam :
- SET-X, PROTO
- PTS SEIFERT, X’PERT PanAlytical,
Le stage proposé associe cours, exercices, travaux pratiques en laboratoire et exemples d'applications industrielles.

Centre(s) d'enseignement

Complément lieu

Arts et Métiers ParisTech CER de Paris – 151 boulevard de l'Hôpital – 75013 PARIS

Session(s)

du 29 mai 2018 au 1 juin 2018