Introduction à la microscopie électronique à balayage et à la microanalyse x élémentaire (personnes débutantes)

Code Stage : EA01

Tarifs

2130 €

Nombre d'heures

24

Stage de quatre jours.
Nombre participants limité à 20.

Responsable

François BRISSET, Ingénieur de recherches, Université d’Orsay – Paris Sud
Organisé en collaboration avec l’Université Paris-Sud / CNRS

Publics et conditions d'accès

Ingénieurs, techniciens supérieurs et chercheurs débutant dans le domaine de l'observation des matériaux solides par microscopie électronique.
Métallurgistes, mécaniciens, chimistes (travaillant sur des matériaux tant métallurgiques que céramiques ou composites) et géologues.
Une connaissance de la structure de la matière est nécessaire pour la compréhension du stage.

Objectifs

  • Acquérir les bases théoriques et pratiques nécessaires pour utiliser correctement un microscope électronique à balayage.
  • Identifier les divers phénomènes physiques rencontrés lors des interactions entre un faisceau électronique et la matière.
  • Appréhender la spectrométrie X à sélection d'énergie et l'analyse qualitative.
  • Repérer les techniques de préparation des échantillons.
  • S'initier à l'interprétation des phénomènes, des mesures effectuées et des images enregistrées.

Voir aussi les formations en

Programme

Présentation du microscope

Interactions électrons-matière : les phénomènes, leur origine, leur interprétation sommaire

Optique électronique

Les divers détecteurs et analyseurs d'électrons et de photons

Principe de formation de l'image et de son traitement, conditions d'observation

Notions de microanalyse élémentaire par spectrométrie X à sélection d'énergie : analyse qualitative

Préparation des échantillons massifs, métallisation - Les artéfacts

Numérisation et traitement des images

Travaux dirigés sur appareils : imagerie MEB, analyse X qualitative

Au cours d'une journée de démonstration sur appareils, les diverses possibilités des instruments seront passées en revue de façon pratique avec des opérateurs expérimentés


 

Centre(s) d'enseignement

Complément lieu

Paris IIIème

Session(s)

du 3 octobre 2017 au 6 octobre 2017

Contact

01 40 27 24 49
cacemi@cnam.fr