Pratique de l'imagerie au microscope électronique à balayage Option matériaux métalliques

Code Stage : FCEA12

Tarifs

Entreprise : 1010€
Individuel : 505€

Nombre d'heures

14

Stage de deux jours.
Nombre de participants limité à 4.

Responsable

Zehoua Hamouche, Maitre de conférences, Equipe pédagogique Matériaux Industriels du CNAM

Publics et conditions d'accès

Opérateurs débutants, n'ayant pas encore ou très peu manipulé sur un MEB.

Prérequis :

Avoir suivi le stage "Introduction à la microscopie électronique à balayage (personnes débutantes)" (EA01), ou posséder les connaissances théoriques physiques correspondantes.

Objectifs

  • Utiliser et régler de façon optimale un microscope à balayage (MEB) pour réaliser des images en métallographie et fractographie des matériaux métalliques.
  • Dégager les principes physiques transposables à l'utilisation d'autres modèles de microscope à balayage.

Voir aussi les formations en

Programme

• Formation de l'image de routine
• Optimisation de l'image formée avec le détecteur d'électrons secondaires : influence des principaux paramètres (tension, courant, réglages faisceau, ...)
• Images formées avec le détecteur d'électrons rétrodiffusés - Entretien du MEB
• Choix optimal pour un échantillon donné

Moyens pédagogiques :

14 heures de travaux dirigés effectués sur un appareil EVO MA10 de chez Zeiss en groupe limité à quatre personnes.
Chaque participant est à tour de rôle opérateur pour chacun des exercices proposés.

Moyens techniques :

Tableau blanc, vidéoprojecteur

Modalités de validation :

Attestation de participation remise en fin de stage – Pas d'examen final

Centre(s) d'enseignement

Complément lieu

Paris IIIe

Session(s)

du 27 juin 2018 au 28 juin 2018

du 26 juin 2019 au 27 juin 2018

Contact

01 58 80 89 72
entreprises@cnam.fr