Pratique de l'imagerie au microscope électronique à balayage Option matériaux métalliques

Code Stage : EA12

Tarifs

990 €

Nombre d'heures

14

Stage de deux jours.
Nombre de participants limité à 4.

Responsable

Zehoua HAMOUCHE, Maitre de conférences, Equipe pédagogique Matériaux Industriels du CNAM

Publics et conditions d'accès

Opérateurs débutants, n'ayant pas encore ou très peu manipulé sur un MEB, mais ayant suivi le stage "Introduction à la microscopie électronique à balayage (personnes débutantes)" (EA01), ou possédant les connaissances théoriques physiques correspondantes.

Objectifs

  • Utiliser et régler de façon optimale un microscope à balayage (MEB) pour réaliser des images en métallographie et fractographie des matériaux métalliques.
  • Dégager les principes physiques transposables à l'utilisation d'autres modèles de microscope à balayage.

Voir aussi les formations en

Programme

14 heures de travaux dirigés effectués sur un appareil EVO MA10 de chez Zeiss en groupe limité à quatre personnes.
Chaque participant est à tour de rôle opérateur pour chacun des exercices proposés.

• Formation de l'image de routine
• Optimisation de l'image formée avec le détecteur d'électrons secondaires : influence des principaux paramètres (tension, courant, réglages faisceau, ...)
• Images formées avec le détecteur d'électrons rétrodiffusés - Entretien du MEB
• Choix optimal pour un échantillon donné

Centre(s) d'enseignement

Complément lieu

Paris IIIe

Session(s)

du 28 juin 2017 au 29 juin 2017

du 27 juin 2018 au 28 juin 2018

1010 €

Contact

01 58 80 89 72
entreprises@cnam.fr