Pratique de la microanalyse élémentaire par spectrométrie x avec un détecteur à diode (EDS) associé au microscope à balayage

Code Stage : FCEA14

Tarifs

Entreprises : 1340 €
Individuel : 670 €

Nombre d'heures

18

Stage de deux jours et demi.
Nombre de participants limité à 4.

Responsable

Zehoua Hamouche, Maître de conférence, Equipe pédagogique Matériaux Industriels du CNAM

Publics et conditions d'accès

Opérateurs débutants en microanalyse élémentaire, mais expérimentés en imagerie au MEB et possédant les connaissances physiques de la théorie élémentaire sur la microanalyse X.
Des connaissances au minimum équivalentes au stage "Introduction à la microscopie électronique à balayage et à la microanalyse X élémentaire (personnes débutantes)" (FCEA01) sont nécessaires.

Objectifs

  • Mettre en oeuvre une pratique raisonnée et méthodique de la microanalyse X élémentaire au spectromètre à diode associé au microscope électronique à balayage (MEB), appliquée principalement aux matériaux métalliques.
  • Dégager les principes physiques transposables à l'utilisation d'autres modèles d'appareillage.

Voir aussi les formations en

Programme

  • Analyse qualitative : Préparation de l'échantillon, réglage du microscope, choix des paramètres d'acquisition du spectromètre, analyse et traitement du spectre.
  • Analyse quantitative : Choix des conditions de mesures, aspects statistiques, méthodes de correction, analyse avec acquisition sur des témoins. Cartographie élémentaire ("image X") et profil d'analyse élémentaire.

Moyens pédagogiques :
17 heures de travaux dirigés effectués sur un appareil EVO MA10 de chez Zeiss équipé d'un détecteur à diode Si(Li) à fenêtre mince et d'un système d'analyse et de traitement PGT "SPIRIT". Chaque participant est à tour de rôle opérateur pour chacun des exercices proposés.

Moyens techniques :
Tableau blanc, vidéoprojecteur, matériel industriel

Centre(s) d'enseignement

Complément lieu

Paris IIIème

Session(s)

du 10 décembre 2018 au 12 décembre 2018

10, 11, 12 décembre 2018

du 12 mars 2019 au 14 mars 2019

12, 13, 14 mars 2019

Contact

01 58 80 89 72
entreprises@cnam.fr