Pratique de la microanalyse élémentaire par spectrométrie x avec un détecteur à diode (EDS) associé au microscope à balayage

Code Stage : EA14

Tarifs

1340 €

Nombre d'heures

18

Stage de deux jours et demi.
Nombre de participants limité à 4.

Responsable

Zehoua Hamouche, Maître de conférence, Equipe pédagogique Matériaux Industriels du CNAM

Publics et conditions d'accès

Opérateurs débutants en microanalyse élémentaire, mais expérimentés en imagerie au MEB et possédant les connaissances physiques de la théorie élémentaire sur la microanalyse X.
Des connaissances au minimum équivalentes au stage "Introduction à la microscopie électronique à balayage et à la microanalyse X élémentaire (personnes débutantes)" (EA01) sont nécessaires.

Objectifs

  • Mettre en oeuvre une pratique raisonnée et méthodique de la microanalyse X élémentaire au spectromètre à diode associé au microscope électronique à balayage (MEB), appliquée principalement aux matériaux métalliques.
  • Dégager les principes physiques transposables à l'utilisation d'autres modèles d'appareillage.

Voir aussi les formations en

Programme

17 heures de travaux dirigés effectués sur un appareil EVO MA10 de chez Zeiss équipé d'un détecteur à diode Si(Li) à fenêtre mince et d'un système d'analyse et de traitement PGT "SPIRIT".
Chaque participant est à tour de rôle opérateur pour chacun des exercices proposés.

Analyse qualitative
Préparation de l'échantillon, réglage du microscope, choix des paramètres d'acquisition du spectromètre, analyse et traitement du spectre.
Analyse quantitative
Choix des conditions de mesures, aspects statistiques, méthodes de correction, analyse avec acquisition sur des témoins.
Cartographie élémentaire ("image X") et profil d'analyse élémentaire.

Centre(s) d'enseignement

Complément lieu

Paris IIIème

Session(s)

du 11 décembre 2017 au 13 décembre 2017

Premier jour 9h et dernier jour 13h (déjeuner prévu)

 

du 14 mars 2018 au 16 mars 2018

Premier jour 9h et dernier jour 13h (déjeuner prévu)

Contact

Tél : 01 40 27 24 49
Mél : cacemi@cnam.fr