Techniques avancées de radiation de synchrotron

Code Stage : EA08

Tarifs

570 € HT

Nombre d'heures

7

Une journée pour comprendre les différents types de mesures et les instruments associés aux centre de radiation de synchrotron.

Responsable

Maria C. Asensio
Synchrotron Soleil Stage organisé par la SFV

Publics et conditions d'accès

Techniciens supérieurs, ingénieurs, cadres, chercheurs et doctorants du milieu industriel et académique. Laboratoires, R&D, production, contrôle, support technique Secteurs de la caractérisation de matériaux fonctionnels, matériaux traditionnels, nanomatériaux, corrosion et vieillissement, plastiques et composites, traitements des surface, préparation de surfaces et adhésion, traitement de métaux et alliages.
Pré-requis :
Pour suivre cette formation, une connaissance de base des techniques de vide est souhaitable, mais non indispensable.

Objectifs

Dans un contexte d’évolution technologique, les méthodes avancées de caractérisation et d’analyse en utilisant la radiation de Synchrotron sont indispensables pour recueillir les informations structurales, chimiques, mécaniques, électroniques et magnétiques à l’échelle atomique et moléculaire des produits et des matériaux à forte valeur ajoutée.
Cette formation destinée à un public très varié vise à procurer non seulement l’information indispensable pour accéder aux centres de radiation de Synchrotron, mais également elle souhaite apporter les connaissances nécessaires à l’utilisation des principales techniques disponibles dans ces centres. Le cours fournit également aux participants une compréhension claire des critères qui déterminent une sélection efficace, des méthodes d’analyse.

Voir aussi les formations en

Programme

Présentation comparative des différentes techniques disponibles dans les centres de radiation de synchrotron et les méthodes de caractérisation des laboratoires conventionnels.
Préparation et manipulation des échantillons sous vide, bombardement avec ions, recuit, évaporation, dosage, etc.
Etude spectroscopique par absorption de Rayon X (XAS) de divers matériaux : semi-conducteurs, isolants et métalliques. Analyse élémentaire et chimique (calibration, incertitudes et assignation des spectres).
Analyse spectroscopique par photoémission d’électrons (PES) de matériaux de différente complexité (semi-conducteurs; oxydes et métaux).
Imagerie de matériaux à différentes échelles du nanomètre jusqu’au millimètre en utilisant le contraste d’absorption de Rayons X.
Etude de diffraction pour la détermination de l’ordre local de divers matériaux.
Acquisition et traitement de données directement sur une ligne de lumière du Synchrotron SOLEIL.
Travaux pratiques : 75 % dans une ligne de lumière au Synchrotron SOLEIL

Complément lieu

Synchrotron SOLEIL. Gif-sur-Yvette

Session(s)

du 19 juin 2017 au 19 juin 2017

du 4 décembre 2017 au 4 décembre 2017

Contact

cacemi@cnam.fr
01 40 27 24 49