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cacemi.cnam.fr
Techniques avancées de radiation
de synchroton
Organisé par la Société française du vide (SFV)
Objectifs
Cette formation constitue un guide essentiel pour comprendre les diffé-
rents types demesures et les instruments associés aux centres de radia-
tion de synchrotron.
Dans un contexte d’évolution technologique, les méthodes avancées de
caractérisation et d’analyse en utilisant la radiation de synchrotron sont
indispensables pour recueillir les informations structurales, chimiques,
mécaniques, électroniques et magnétiques à l’échelle atomique et molé-
culaire des produits et des matériaux à forte valeur ajoutée.
Cette formation destinée à un public très varié vise à procurer non seu-
lement l’information indispensable pour accéder aux centres de radiation
de synchrotron, mais également elle souhaite apporter les connaissances
nécessaires à l’utilisation des principales techniques disponibles dans ces
centres. Le cours fournit également aux participants une compréhension
claire des critères qui déterminent une sélection efficace, des méthodes
d’analyse.
EA08
Public
Ingénieurs et techniciens supérieurs
de l’industrie ou de la recherche-
développement qui, sans être
obligatoirement chargés des ana-
lyses de surface, désirent s’infor-
mer sur les possibilités comparées
des différentesméthodes et/ou ont
àmettre enœuvre cesméthodes et
à en utiliser les résultats.
Pour suivre cette formation, une
connaissance de base des tech-
niques de vide est souhaitable,mais
non indispensable.
Programme
•
Présentationcomparativedes différentes tech-
niques disponibles dans les centres de radia-
tion de synchrotron et lesméthodes de carac-
térisation des laboratoires conventionnels.
• Préparation et manipulation des échantillons
sous vide, bombardement avec ions, recuit,
évaporation, dosage, etc.
• Étude spectroscopique par absorption de
Rayon X (XAS) de divers matériaux : semi-
conducteurs, isolants et métalliques. Analyse
élémentaire et chimique (calibration, incerti-
tudes et assignation des spectres).
• Analyse spectroscopique par photoémission
d’électrons (PES) de matériaux de différente
complexité (semi-conducteurs; oxydes et
métaux).
• Imagerie de matériaux à différentes échelles
du nanomètre jusqu’aumillimètre en utilisant
le contraste d’absorption de Rayons X.
• Étude de diffraction pour la détermination de
l’ordre local de divers matériaux.
• Acquisition et traitement de données directe-
ment sur une ligne de lumière du synchrotron
Soleil.
Travaux pratiques :
75 % dans une ligne de
lumière au synchrotron Soleil.
7
heures
/1
jour
18 juin 2014
13 novembre 2014
Tarif : 500 € HT
Synchrotron Soleil
Gif-sur-Yvette
Animateur
María C. Asensio
EA08
