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Pratique de l’imagerie au microscope
électronique à balayage.
Option matériaux métalliques
Objectifs
•
Utiliser et régler de façon optimale un microscope à balayage (MEB)
pour réaliser des images en métallographie et fractographie des maté-
riaux métalliques.
•
Dégager les principes physiques transposables à l’utilisation d’autres
modèles de microscope à balayage.
EA12
Public
Opérateurs débutants, n’ayant pas
encore ou très peumanipulé sur un
MEB.
Il est indispensable d’avoir suivi le
stage Introduction à lamicroscopie
électronique à balayage (personnes
débutantes) (EA01), ou de posséder
les connaissances théoriques phy-
siques correspondantes.
Programme
• Formation de l’image de routine.
• Optimisation de l’image formée avec le détec-
teur d’électrons secondaires : influence des
principaux paramètres (tension, courant,
réglages faisceau...).
• Images formées avec le détecteur d’électrons
rétrodiffusés - Entretien du MEB.
• Choix optimal pour un échantillon donné.
Quatorze heures de travaux dirigés effectués
sur un appareil EVO MA10 de chez Zeiss en
groupe limité à quatre personnes.
Chaque participant est à tour de rôle opérateur
pour chacun des exercices proposés.
14
heures
/2
jours
Le nombre de participants est limité à 4
25, 26 juin 2014
Tarif : 940 €
24, 25 juin 2015
Tarif : 970 €
Paris III
e
Déjeuner offert
Responsables pédagogiques
Patrice Lefrançois,
ingénieur de
recherche, équipe pédagogique maté-
riaux industriels du Cnam
Zehoua Hamouche,
maître de confé-
rences, équipe pédagogiquematériaux
industriels du Cnam
EA12
