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Organisé en collaboration avec Arts et Métiers ParisTech (École nationale supérieure d’arts et
métiers)
Détermination des contraintes résiduelles
par diffraction des rayons X
Objectif
•
Approfondir les techniques de base et de mise en oeuvre pratique.
EA20
Public
Ingénieurs et techniciens supérieurs
des laboratoires de contrôle,
d’essais et de recherche. Ce stage
est destiné aussi bienaux débutants,
qu’aux utilisateurs réguliers de la
méthode. Il ne suppose que peu de
connaissances préalables en
diffraction X et en mécanique.
Programme
• Origine et ordres de contraintes résiduelles.
• Éléments de mécanique des solides.
• Éléments de diffraction des rayons X.
• Théorie de la méthode.
• Appareillages utilisés.
• Localisationdes pics, calculs d’erreurs (erreurs
géométriques).
• Limites de la méthode.
• Mise en oeuvre de la méthode.
• Étude de cas commentée.
• Travaux en laboratoire, exercices.
• Discussion avec les chercheurs.
• Exemples d’applications industrielles.
Appareils vus à l’Ensam :
- SET-X, PROTO ;
- PTS SEIFERT, X’PERT PanAlytical.
Le stage proposé associe cours, exercices,
travaux pratiques en laboratoire et exemples
d’applications industrielles.
28
heures
/4
jours
Le nombre de participants est limité à 10
25, 26, 27, 28 mars 2014
Tarif : 1 700 €
24, 25, 26, 27 mars 2015
Tarif : 1 800 €
Arts et Métiers
ParisTech
CER de Paris
151 boulevard de l’Hôpital
Paris XIII
e
Responsables pédagogiques
Chedly BrahametWilfriedSeiler,
Ensam
ParisTech, CER de Paris
EA20
