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Pratique de la microanalyse élémentaire par
spectrométrie X avec un détecteur à diode (eds)
associé au microscope à balayage
Objectifs
•
Mettre en œuvre une pratique raisonnée et méthodique de la microa-
nalyse X élémentaire au spectromètre à diode associé au microscope
électronique à balayage (MEB), appliquée principalement auxmatériaux
métalliques.
•
Dégager les principes physiques transposables à l’utilisation d’autres
modèles d’appareillage.
EA14
Public
Opérateurs débutants en microa-
nalyse élémentaire, mais expéri-
mentés en imagerie au MEB et
possédant les connaissances
physiques de la théorie élémentaire
sur la microanalyse X.
Des connaissances au minimum
équivalentes au stage Introduction
à la microscopie électronique à
balayage et à la microanalyse X
élémentaire (personnes débutantes)
(EA01) sont nécessaires.
Programme
•
Analyse qualitative
Préparation de l’échantillon, réglage dumicros-
cope, choix des paramètres d’acquisition du
spectromètre, analyse et traitement du spectre.
•
Analyse quantitative
Choix des conditions de mesures, aspects sta-
tistiques, méthodes de correction, analyse avec
acquisition sur des témoins.
• Cartographie élémentaire
Image X et profil d’analyse élémentaire.
17 heures de travaux dirigés effectués sur un
appareil EVO MA10 de chez Zeiss équipé d’un
détecteur à diode Si(Li) à fenêtre mince et d’un
système d’analyse QUANTAX et de traitement
« ESPRIT ».
Chaque participant est à tour de rôle opérateur
pour chacun des exercices proposés.
18
heures
/2,5
jours
Le nombre de participants est limité à 4
25, 26, 27 mars 2014
Tarif : 1 250 €
16, 17, 18 décembre 2014
17, 18, 19 mars 2015
Tarif : 1 280 €
Paris III
e
Déjeuner offert
Responsable pédagogique
Patrice Lefrançois,
ingénieur de
recherche, équipe pédagogique
matériaux industriels du Cnam
EA14
