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Initiation à la diffraction des rayons X
Objectif
•
Acquérir les connaissances de base théoriques et pratiques pour lamise
en œuvre de techniques de diffraction de rayons X et leur utilisation en
science des matériaux.
EA17
Public
Techniciens et techniciens supé-
rieurs désirant acquérir les connais-
sances de base dans le domaine de
l’analyse cristallographique des
matériauxmétalliques etminéraux.
Programme
• Rappels de notions de base de cristallographie
(structure cristalline, symétrie, groupe d’es-
pace, réseau réciproque).
• Interactionmatière/rayonnement X - principes
de la diffraction.
• Techniques expérimentales (préparation des
échantillons, montages et appareillages).
• Analyse et interprétation de diffractogrammes
(identification de phases, détermination des
paramètres cristallins et de taille de cristal-
lites).
• Utilisation de logiciels de traitement de don-
nées.
Le stage associera cours, exercices et travaux
pratiques. Se munir d’une calculatrice scienti-
fique.
Pendant les TP, il sera possible d’analyser des
diffractogrammes sur lesquels des stagiaires
auraient des questionnements ; semunir le cas
échéant des fichiers résultats obtenus.
18
heures
/3
jours
Le nombre de participants est limité à 10
30 septembre ; 1, 2 octobre 2014
Tarif : 1 180 €
29, 30 septembre ; 1
er
octobre 2015
Tarif non déterminé
Paris III
e
Déjeuner offert
Responsables pédagogiques
LéoMazerolles,
directeur de recherches
au CNRS
Sandrine Tusseau - Nenez,
ingénieure
eede recherches au CNRS
EA17
